Synopsys, Inc. ha annunciato un'innovativa tecnologia di streaming fabric che riduce fino all'80% i tempi di accesso ai dati del silicio e di test, minimizzando al contempo l'energia eccessiva. Generato dallo strumento di progettazione per il test Synopsys TestMAX® DFT e parte del flusso di gestione coesiva del ciclo di vita del silicio di Synopsys, il nuovo tessuto di streaming è una rete on-chip unica che trasporta rapidamente i dati del silicio da e verso blocchi di progettazione multipli e sistemi multi-die, riducendo in modo significativo il tempo per testare in modo efficiente e analizzare la salute complessiva del chip per individuare anomalie e guasti. Riduzione dei costi di test grazie alla riduzione dei tempi di trasporto dei dati: garantire la salute e il tempo di attività del silicio richiede l'accesso costante e l'analisi dei dati del chip o del sistema multi-die su parametri come il processo, la tensione e la temperatura.

Per i progetti di grandi dimensioni e con nodi avanzati, i team di ingegneri utilizzano in genere un approccio divide et impera, incorporando l'accesso ai dati in ogni blocco di progettazione e collegando poi i blocchi ai pin a livello di chip. Le reti tradizionali sono piuttosto rigide e richiedono una notevole quantità di pianificazione. Al contrario, la nuova tecnologia streaming fabric adotta un approccio plug-and-play, che richiede uno sforzo di pianificazione minimo, poiché può essere programmata per adattarsi a varie velocità di blocco e dimensioni di interfaccia dati.

Per ridurre al minimo il routing, il fabric supporta una ramificazione semplificata per i blocchi con interfacce dati piccole. Queste funzionalità assicurano che le metodologie di accesso ai dati a livello di blocco siano facili da progettare fisicamente, richiedano uno sforzo minimo e forniscano il minor tempo di accesso richiesto, riducendo i costi di test. Inoltre, le connessioni di ramificazione semplificate della tecnologia riducono al minimo l'impatto fisico sui progetti, consentendo ai team di ingegneri di implementare rapidamente lo streaming fabric utilizzando la famiglia di progettazione digitale di Synopsys.

Miglioramento dell'affidabilità dei dati attraverso una stima accurata della potenza: I dati, compresi i programmi di test, applicati ai chip o ai sistemi multi-die sul campo non devono far sì che il silicio utilizzi troppa energia, il che potrebbe danneggiare il componente o invalidare i risultati. La nuova tecnologia di stima della potenza incorporata nella soluzione di generazione di pattern ATPG Synopsys TestMAX determina in modo più accurato la potenza assorbita al momento dell'applicazione dei dati rispetto ai metodi precedenti, assegnando i risultati della tecnologia di analisi della potenza Synopsys PrimePower RTL-to-signoff. Di conseguenza, il calo di potenza viene mitigato, evitando risultati errati e danni ai dati del silicio.