Faraday Technology Corporation ha annunciato di aver collaborato con Infineon per sviluppare una piattaforma SONOS eFlash sul processo 40uLP di UMC. Questa piattaforma comprende un sottosistema eFlash IP di nuova concezione e una soluzione di test eFlash completa con funzioni di accesso ai dati facili da integrare e veloci. Questa soluzione completa facilita i clienti ad accelerare lo sviluppo del prodotto e ad utilizzare più facilmente la tecnologia della memoria flash; inoltre, semplifica il collaudo di SONOS eFlash con una funzione di autotest incorporata (BIST) per offrire ai clienti solidi vantaggi di qualità.

Per soddisfare la domanda di eFlash a 40 nm a basso consumo e sicura, guidata dalle applicazioni AI, smart grid, IoT e MCU, Faraday e Infineon hanno sviluppato congiuntamente questa piattaforma SONOS eFlash. Questa piattaforma contiene principalmente un blocco di memoria flash, un controller e il nuovo sottosistema IP. Questo sottosistema include un'interfaccia bus essenziale, circuiti di controllo del clock integrati e funzionalità aggiuntive, come l'inizializzazione automatica di eFlash, una procedura di cancellazione/scrittura semplificata per scaricare l'overhead della CPU, una protezione di lettura/scrittura e un buffer di scrittura pseudo casuale, per un'integrazione e un utilizzo senza soluzione di continuità dell'IP SONOS eFlash.

Inoltre, questo sottosistema con BIST consente di testare i chip su apparecchiature di prova generiche per garantire la qualità e l'affidabilità della memoria flash, nonché per ridurre i tempi di prova.