Aehr Test Systems ha annunciato di aver ricevuto un primo ordine da parte di un cliente per un sistema di test e burn-in a livello di wafer FOX-NP e un allineatore FOX WaferPak da utilizzare per i dispositivi di potenza al nitruro di gallio (GaN). Il cliente è un fornitore leader a livello mondiale di dispositivi a semiconduttore utilizzati nei veicoli elettrici e nelle infrastrutture elettriche e aggiunge un altro importante cliente all'elenco delle aziende che utilizzano i prodotti FOX di Aehr per il test a livello di wafer e il burn-in di semiconduttori composti ad ampio bandgap. La consegna e l'installazione del sistema FOX-NP, che include l'allineatore FOX WaferPak, è prevista per il trimestre fiscale in corso.

Come primo cliente di Aehr nel settore del nitruro di gallio ad ordinare un sistema, questa azienda ha scelto Aehr in parte per la sua capacità unica di offrire una soluzione totale che consente ai clienti di applicare condizioni di stress termico ed elettrico a migliaia di dispositivi ancora sotto forma di wafer. La tecnologia all'avanguardia di Aehr fornisce informazioni critiche di geolocalizzazione sul wafer, inducendo i guasti estrinseci (early life) che altrimenti si verificherebbero sul campo, senza ridurre l'affidabilità o la durata a lungo termine dei dispositivi buoni. Aehr consente ai suoi clienti di implementare in modo economico il processo di test e qualificazione necessario per i dispositivi a semiconduttore che presentano guasti precoci, non solo applicando la condizione di stress elettrico a ogni dispositivo sul wafer, ma anche testando fino a 18 wafer alla volta, utilizzando il sistema di test di produzione e burn-in FOX-XP.

Questi test elettrici vengono eseguiti con fino a migliaia di strumenti di misurazione e sorgenti elettriche calibrate e precise per wafer. Questi test vengono eseguiti mantenendo la temperatura ad una temperatura termica accuratamente programmata su ciascun wafer, utilizzando un trasferimento termico a conduzione diretta tramite un mandrino termico di precisione brevettato per wafer. Il FOX-NP completa il sistema FOX-XP di produzione di Aehr, utilizzando le stesse 'lame' di test presenti nel FOX-XP, per consentire una correlazione al 100% tra i risultati del FOX-NP e quelli del FOX-XP.

I sistemi FOX-XP e FOX-NP, disponibili con configurazioni di contattori WaferPak multipli (test dell'intero wafer) o di portamateriali DiePakTM multipli (test di un singolo die/modulo), sono in grado di eseguire test funzionali e burn-in/ciclo di dispositivi come i semiconduttori di potenza al carburo di silicio e al nitruro di gallio, fotonica al silicio e altri dispositivi ottici, sensori 2D e 3D, memorie flash, sensori magnetici, microcontrollori e altri circuiti integrati, sia nel fattore di forma wafer, prima di essere assemblati in pacchetti impilati a uno o più die, sia nel fattore di forma a die singolo o modulo.