NI ha annunciato una nuova iniziativa per offrire soluzioni di analisi dei semiconduttori in tempo reale ai margini, utilizzando la sua piattaforma NI Global Operations (GO, ex Optimal+). Questo nuovo livello di infrastruttura e di controllo apre le porte ad applicazioni più avanzate e personalizzate sviluppate dagli utenti della piattaforma, da NI e anche da terzi. L'annuncio è sottolineato da un nuovo livello di abilitazione all'interno dell'ecosistema NI GO e dall'integrazione iniziale con il fornitore leader di ATE, Teradyne.

Le crescenti esigenze di qualità, rendimento, produttività e funzionalità delle operazioni di test dei semiconduttori hanno stimolato l'interesse a sviluppare controlli di test migliori e più reattivi. Per affrontare questo problema, il nuovo NI Global Operations Real-time Application Enablement Layer estende le capacità esistenti della piattaforma GO ai server sicuri e a bassa latenza dei tester, in modo che i modelli di analisi possano essere eseguiti in linea con l'esecuzione dei test. Il nuovo livello di abilitazione migliora l'architettura aperta e le solide capacità analitiche di NI Global Operations, aggiungendo il supporto integrato per le piattaforme di test ATE. I loro dati locali, la sicurezza e i protocolli di comunicazione, combinati con l'analisi backend di NI GO, creano una soluzione completa e affidabile per il controllo in tempo reale nel test dei semiconduttori.

Iniziare con Teradyne significa che i loro footprint di tester avranno accesso a queste nuove funzionalità. Inoltre, l'architettura aperta consentirà di supportare tutti i fornitori e le piattaforme ATE in futuro, con ulteriori annunci previsti. Lavorando direttamente con i fornitori di ATE, NI può garantire un supporto a lungo termine, una collaborazione e un'innovazione intorno a queste soluzioni congiunte.

Queste relazioni sono progettate per consentire un'architettura combinata e integrata che utilizzi meglio i server ATE per consentire nuove possibilità di ottimizzazione dei test sui semiconduttori. Questo è possibile ora grazie all'aumento degli investimenti dei fornitori di ATE per supportare le loro piattaforme di test con soluzioni edge sicure e integrate. La soluzione analitica Archimedes di Teradyne integra tecnologie come l'analisi dei dati, l'intelligenza artificiale e l'apprendimento automatico nelle soluzioni di test.

La sua architettura aperta supporta i principali modelli di soluzioni analitiche e consente un flusso sicuro di dati in tempo reale con un impatto quasi nullo sui tempi di test, che migliora la qualità, aumenta la resa e riduce i tempi di inattività dei tester. Come membro degli ecosistemi Archimedes di Teradyne, i modelli e le applicazioni analitiche di NI GO ottengono le risorse di calcolo disponibili per agire più vicino alle attività di test rispetto al passato, il che significa che le azioni e i controlli guidati dai dati possono essere attivati durante l'esecuzione del test. Inoltre, questi modelli beneficiano dei protocolli di sicurezza nativi dei server ATE, il che significa che tutti i dati e l'IP sono sufficientemente protetti.

Di conseguenza, le soluzioni esistenti, come il Re-binning o il DPAT, possono essere più efficaci in tempo reale, aprendo al contempo la porta a soluzioni di nuova generazione e fai-da-te che non erano mai state pensate possibili, come il rilevamento della deriva. Questo sviluppo di NI è più che un semplice contributo ai recenti cambiamenti del settore nell'ecosistema di test e analisi dei semiconduttori. Completa l'intera pipeline di analisi dal tester all'edge al cloud e viceversa.

Ciò significa che i modelli in tempo reale basati su ATE non sono isolati o stagnanti. Sono alimentati da un ecosistema analitico più ampio che collega tutti i tester e i banchi di prova, interni ed esterni, a un'unica istanza di big data, consentendo un apprendimento più profondo per ottenere approfondimenti più incisivi e in continuo aggiornamento. Inoltre, i GO Edge Server fungono da hub di gestione dei modelli e delle app, per garantire che i modelli in tempo reale vengano distribuiti, aggiornati, monitorati ed eliminati in modo efficace.

Combinando il controllo in tempo reale con un backend analitico completo e adattivo, le soluzioni NI GO + ATE sono progettate per essere le funzionalità di controllo dei test più impattanti del mercato.