PARK SYSTEMS CORP. Park Systems Corp. ha annunciato il rilascio della sua ultima innovazione di microscopia a forza atomica (AFM), Park FX200, progettato per campioni di 200 mm. L'FX200 è stato sviluppato per soddisfare le esigenze della ricerca e delle applicazioni industriali, offrendo progressi significativi nella tecnologia AFM per campioni di grandi dimensioni.
L'FX200 presenta una struttura meccanica avanzata che assicura un rumore di fondo significativamente più basso e una deriva termica minima, garantendo una maggiore stabilità durante le misurazioni. Questo miglioramento favorisce una maggiore precisione e prestazioni affidabili per periodi di funzionamento prolungati. Grazie alle prestazioni più rapide del servo Z, l'FX200 consente una scansione rapida e precisa su ampie aree del campione.
La vista del campione ad alta potenza con messa a fuoco automatica consente ai ricercatori di ottenere una chiarezza e un dettaglio eccezionali nell'imaging AFM, indipendentemente dal tipo o dalle condizioni del campione. L'FX200 include diverse funzioni automatizzate per semplificare le operazioni e massimizzare l'efficienza. Il riconoscimento e lo scambio automatico della sonda eliminano le regolazioni manuali, mentre la dimensione ridotta dello spot laser e gli allineamenti automatici migliorano l'accuratezza e la coerenza della misurazione.
L'ottica macro offre una visione completa del campione di 200 mm, consentendo un'analisi completa senza la necessità di unire più immagini. Questa capacità è potenziata da misurazioni sequenziali automatiche su coordinate predefinite, che facilitano la raccolta efficiente dei dati su ampie aree del campione. Park FX200 è stato progettato pensando alla comodità dell'utente, con impostazioni automatiche dei parametri di scansione AFM.
Questa interfaccia intuitiva consente ai ricercatori di concentrarsi sugli obiettivi scientifici piuttosto che sulla configurazione dello strumento, migliorando la produttività e l'efficienza del flusso di lavoro. Inoltre, le sue prestazioni superiori lo rendono ideale per un'ampia gamma di applicazioni di ricerca e industriali, tra cui lo studio della morfologia superficiale, la caratterizzazione delle proprietà meccaniche e l'esplorazione dei fenomeni su scala nanometrica, fornendo risultati affidabili per gli sforzi scientifici contemporanei. Rappresentando un progresso significativo nella tecnologia AFM, Park FX200 offre una maggiore precisione, efficienza automatizzata e una visualizzazione completa dei campioni.
